Fujinon Lens XF 55-200mm f/3.5-4.8R LM OIS

Description

Garansi Resmi 1 Tahun Fujifilm Indonesia

Mencakup rentang telefoto serbaguna, XF 55-200mm f / 3.5-4.8 R LM OIS dari FUJIFILM adalah zoom setara 84-305mm yang cocok untuk olahraga, fotografi acara, dan potret wajah. Desain optiknya menggabungkan dua elemen dispersi ekstra rendah dan satu elemen asferis, yang membantu mengurangi berbagai aberasi untuk mencapai kejernihan dan ketajaman yang lebih baik. Lapisan Super EBC juga membantu menekan flare dan ghosting untuk kontras dan akurasi warna yang lebih baik saat bekerja dalam kondisi terang dan cahaya latar. Melengkapi optik, sistem stabilisasi gambar optik meminimalkan munculnya goyangan kamera hingga 4,5 stop untuk menghasilkan foto genggam yang lebih tajam. Selain itu, motor AF linier memberikan kinerja pemfokusan yang cepat dan senyap untuk memanfaatkan gambar diam dan penggunaan video.

• Zoom telefoto dirancang untuk kamera mirrorless FUJIFILM X-mount format APS-C dan menawarkan kisaran panjang fokus setara 84-305mm.
• Dua elemen dispersi ekstra-rendah, termasuk satu elemen Super ED, digunakan untuk sangat mengurangi penyimpangan warna dan penyimpangan kromatik untuk menghasilkan kejernihan tinggi dan ketepatan warna di seluruh rentang zoom.
• Satu elemen asferis membatasi distorsi dan penyimpangan bola untuk mewujudkan ketajaman dan rendering yang lebih akurat.
• Lapisan Super EBC telah diterapkan pada elemen individu untuk mengurangi flare lensa dan ghosting untuk meningkatkan kontras dan ketepatan warna saat bekerja dalam kondisi pencahayaan yang kuat.
• Sistem stabilisasi gambar optik 4,5 stop-efektif meminimalkan munculnya guncangan kamera untuk pengambilan gambar genggam yang lebih tajam dalam kondisi cahaya rendah dan dengan kecepatan rana yang lebih lambat.
• Motor linier menghadirkan kinerja fokus otomatis yang cepat, senyap, dan mulus yang sangat bermanfaat saat bekerja dengan subjek yang bergerak cepat.
• Diafragma tujuh bilah bundar berkontribusi pada kualitas di luar fokus yang menyenangkan untuk memanfaatkan penggunaan fokus selektif dan teknik kedalaman bidang yang dangkal.